传英伟达GB300元件测试有过热问题,将导致量产延迟

天风证券分析师郭明錤表示,英伟达明年将推出的B300/GB300芯片在测试AOS的5×5 DrMOS技术时发现过热问题,或影响量产进度。若AOS无法及时解决,英伟达可能转向其他供应商或使用5×6 DrMOS以提高散热效能。英伟达计划于2025年推出新一代AI芯片“BlackwellUltra”GB300,采用全水冷设计实现突破性散热。(芯智讯)

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